Microhardness measurements of the thin layers of the amorphous hydrogenated silicon and its alloys

Autoři

ŠŤASTNÝ Jiří SLÁDEK Petr SŤAHEL Pavel

Rok publikování 1997
Druh Kapitola v knize
Fakulta / Pracoviště MU

Pedagogická fakulta

Citace

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.