Comparison of AFM and optical methods at measuring nanometric surface roughness

Logo poskytovatele
Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Pedagogickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel OHLÍDAL Miloslav VIČAR Martin KLAPETEK Petr

Rok publikování 1998
Druh Článek ve sborníku
Konference Proceedings of the 3th Seminar on Quantitative Microscopy
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/PTBF34_123.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Popis In this contribution a comparison of the values of basic quantities characterizing random nanometric surface roughness determined by AFM and optical methods is presented.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.