Matrix formalism for imperfect thin films

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Pedagogickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

Rok publikování 2000
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Acta physica slovaca
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/APS50_489.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Popis In this review paper a uniform matrix formalism enabling us to include the important defects of thin film systems into the formulae for their optical quantities is presented. The following defects are discussed: roughness of the boundaries; inhomogeneity represented by profiles of the refractive indices; transition interface layer and volume inhomogeneity. It is shown that this formalism is relatively very efficient. Thus fact is demonstrated using a theoretical example representing a complicated thin film system exhibiting defects.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.