Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial thin films

Varování

Publikace nespadá pod Pedagogickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut
Rok publikování	2003
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Japanese Journal of Applied Physics
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	ZnTe epitaxial films; AFM analysis; faceted boundaries
Popis	In this paper, results concerning atomic force microscopy studies of the upper bounaries of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy onto gallium arsenide single crystal substrates are presented. It is sohw that the upper boundaries exhibit faceted structure which is described by means of statistical analysis.
Související projekty:	Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie Optické a mechanické vlastnosti tenkých vrstev DLC:Si připravených PECVD metodou