Three Dimensional Heteroepitaxy: A New Path For Monolithically Integrating Mismatched Materials With Silicon
Název česky | Tří rozměrná epitaxe: Nová cesta pro různé materiály integrované monoliticky ma křemíku |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2012 |
Druh | Článek ve sborníku |
Konference | 2012 International Semiconductor Conference (CAS) Vols 1 and 2 |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
www | http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?tp=&arnumber=6400698 |
Doi | http://dx.doi.org/10.1109/SMICND.2012.6400698 |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | monolithic integration; high quality Ge; elimination of cracking; threading-dislocation densities; epitaxial necking; patterned Si substrates; electrical properties |
Popis | S ohledem na poptávku po Ge rtg detektorech monoliticky integrovaných na na Si-CMOS technologii jsme vyvinuli novou metodu pro kombinaci různých materiálů, které mohou poskytnout řešení hlavních problémů heteroepitaxe, tj. vysoké hustoty threading dislokací, ohýbání desek a praskání. |
Související projekty: |