Independent analysis of mechanical data from atomic force microscopy

Logo poskytovatele
Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Pedagogickou fakultu, ale pod Středoevropský technologický institut. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Nezávislá analýza mechanických dat z mikroskopie atomové síly
Autoři

KLAPETEK Petr NEČAS David

Rok publikování 2014
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Measurement Science and Technology
Fakulta / Pracoviště MU

Středoevropský technologický institut

Citace
www Vydavatel
Doi http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/25/4/044009
Obor Senzory, čidla, měření a regulace
Klíčová slova atomic force microscopy; mechanical properties; volume data
Přiložené soubory
Popis Současné AFM mikroskopy dokáží získávat velké objemy dat měřením bodových křivky síla-vzdálenost. Ačkoli se používají různé obchodní známky a různé technické implementace, ve většině technik se měření křivka síla-vzdálenost v každém pixelu obrázku, a tato křivka se okamžitě fituje nějakou teoretickou závislostí a výsledky se zobrazují jako mechanické vlastnosti materiálu (Youngův modul, adheze, etc.). Výsledky se zpracovávají přímo během měření v řídicí jednotce skenující sondy mikroskopu nebo poté softwarem poskytovaným výrobcem. Tento čláínek představuje softwarový nástroj pro nezávislé numerické zpracování takovýchto dat, s použitím více numerických modelů pro vyhodnocení křivky síla-vzdálenost a zahrnující jednoduchý odhad nejistot vztahujících se k fitovací proceduře. To může zlepšit věrohodnost výsledků a možnosti analýzy mechanických vlastností mapovacích módů v mikroskopii atomové síly.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.