Ellipsometric parameters and reflectances of thin films with slightly rough boundaries

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Pedagogickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

Rok publikování 1998
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Journal of modern optics
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/JMO45_903.html
Obor Optika, masery a lasery
Popis In this theoretical paper formulae for important optical quantities of single layers with slightly randomly rough boundaries are derived by means of a generalized Rayleigh-Rice theory. Thus the formulae for the specular reflectances, ellipsometric parameters and flux of scattered energy of the layers mentioned are presented. The theoretical results are illustrated by a numerical analysis. Practical features implied by this analysis to be relevant from the experimental point of view are introduced as well.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.