Tip-sample relaxation as a source of uncertainty in nanoscale scanning probe microscopy measurements

Varování

Publikace nespadá pod Pedagogickou fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Relaxace hrotu na vzorku jako zdroj nejistot v SPM meřeních v nanoměřítku
Autoři

CAMPBELLOVÁ Anna KLAPETEK Petr VALTR Miroslav

Rok publikování 2009
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Measurement Science and Technology
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova atomic force microscopy; uncertainty; DFT; carbon nanotube
Popis Délková měření v nanoměřítku jsou velmi často zaměřena na malé objekty tvořené jen několika atomárními vrstvami v jednom nebo více rozměrech. Klasický přístup popisu artefaktů založený na konvoluci hrotu a vzorku nemůže platit pro tyto vzorky vzhledem na kvantově-mechanickou povahu malých objektů. Díky působení meziatomárních sil, atomy hrotu a vzorku se ustálí v rovnovážných polohách. Toto vede na změny ve veličinách, které jsou nakonec interpretovány jako poloha AFM hrotu a ovlivňují se tak výsledná délková měření. V tomto článku jsou rozebírány zdroje nejistot spojené s relaxací hrotu na vzorku na atomární úrovni. Jsou prezentovány výsledky DFT modelování (pomocí programu Fireball používajícího aproximaci těsné vazby) AFM snímků typických systémů používaných v nanometrologii, např. fulerenů a CNT na HOPG substrátech.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.