Informace o projektu
Fotonická skla a amorfní vrstvy
- Kód projektu
- GA203/05/0524
- Období řešení
- 1/2005 - 12/2007
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Grantová agentura ČR
- Standardní projekty
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
- Klíčová slova
- -
V projektu budou připravena a studována čistá i dotovaná fotonická skla, tvořená binárními a ternárními chalkogenidy Ge, As, Sb, Ga a dalšími, i jejich tenké amorfní vrstvy. Důraz bude kladen na studium přípravy tenkých filmů pulsní laserovou depozicí an a studium jejich optických vlastností. Pozornost bude věnována studiu fotoindukovaných změn struktury a optických vlastností, zejména optické absorpce, indexu lomu, elipsometrických parametrů, a studiu vlastností termických.Cílem projektu je hlubšípoznán í vlastností fotonických materiálů a jejich potenciální aplikace v optice, optoelektronice a v dalších odvětvích vědy a průmyslu.
Publikace
Počet publikací: 6
2008
-
Optical characterization of phase changing Ge2Sb2Te5 chalcogenide films
physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5
-
Spectroscopic ellipsometry and reflectometry of statistically rough surfaces exhibiting wide intervals of spatial frequencies
physica status solidi (c), rok: 2008, ročník: 5, vydání: 5
2006
-
Comparison of dispersion models in the optical characterization of As-S chalcogenide thin films
Journal of Non-Crystalline Solids, rok: 2006, ročník: 352, vydání: 52-54
2005
-
Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems
Acta physica slovaca, rok: 2005, ročník: 55, vydání: 3
-
Ellipsometry in characterization of thin films
Proceedings of the SREN 2005, rok: 2005
-
Characterization of optical thin films exhibiting defects
Advances in Optical Thin Films II, rok: 2005